裸芯片冷波长测试系统

  • ● 测试效率高
  • ● 测试重复性好
  • ● 对芯片低损伤
  • ● QCW工作方式
  • ● 可定制

技术指标

产品型号发散角范围 (°)发散角精度 (°)测量波长范围 (nm)测量波长分辨率 (nm)
DatasheetFL-CT-LIV-FF *≤ 120± 0.2600 ~ 10000.12


* 典型定制方案。定制产品可能交期较长。

主要应用

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